研究表明静电敏感器件器件带电后对接地导体发生静电放电后对元件造成危害相当突出。因为带电器件模型描述的放电过程是器件本身带电而引起的，所以带电器件模型失效是造成电子器件损坏、失效的主要原因之一。
f-cdm（电场感应带电器件放电模型） 产品详情
随着器件生产和装配的现代化，对器件的大部分操作都是由自动生产线完成，人体接触器件的机会相对减少。电子器件本身在加工、处理、运输等过程中可能会因与工作面及包装材料等接触、摩擦而带电，当带电的电子器件接近或接触接地导体（人体）时，便会产生静电放电。
研究表明静电敏感器件器件带电后对接地导体发生静电放电后对元件造成危害相当突出。因为带电器件模型描述的放电过程是器件本身带电而引起的，所以带电器件模型失效是造成电子器件损坏、失效的主要原因之一。
ems-208半导体器件静电放电发生器是一种模拟静电放电抗扰度测试的设备，集成了人体放电模式(hbm)、机械放电模式(mm)、电场感应带电器件放电模式（f-cdm），符合jesd22-a114、ansi/esda/jedecjs-001、esd stm5.1、jesd22-a115、esd stm5.2、jesd22-c101f（2013年10月发布）等标准的要求，其大静电电压分别为±8.0kv(hbm)、±800.0v(mm)、±2.0kv（f-cdm）足以覆盖上述所有标准中严酷等级的静电电压要求, 为评定ic、led等半导体器件进行静电放电抗扰度测试提供一个准确、理想的依据。
主要技术参数：
（1）大输出电压：±2000v；
（2）电压极性：正/负可切换；
（3）放电次数：1～9999，或连续；
（4）电压设置：手动、自动（内置标准测试等级）；
（5）放电网络：f-cdm；
（6）触发模式：自动、手动；
（7）历史记录：可查看近10次测试数据；
（8）触发源：本地、外部；
（9）外部触发输入：大±15v，bnc接口，ttl下降时间来控制；
（10）触发输出：ttl高脉冲，bnc接口；
（11）interlock：unlock允许试验；lock禁止试验；
（12）内置标准测试等级：125v、250v、500v、1000v、2000v。